SPM扫描探针显微镜

基本信息

设备型号：NanoScope MultiMode
生产厂家：美国Veeco公司

技术指标

分辨率：

原子力显微镜(AFM)：横向 0.26 nm, 垂直 0.1 nm（以云母晶体标定）

扫描隧道显微镜(STM)：横向 0.13 nm, 垂直 0.01 nm（以石墨晶体标定）

机械性能：

样品尺寸：最大可达直径12 mm，厚度8 mm

扫描范围：125×125 μm，垂向5 μm

应用范围

测量样品的表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等等。

备 注

设备编号：G5-01-OM-01

该仪器集成原子力显微镜(AFM)、摩擦力显微镜(LFM)、扫描隧道显微镜(STM)、磁力显微镜(MFM)和静电力显微镜(EFM) 于一体，具有接触、轻敲、相移成像、抬起等多种工作模式，能够提供全部的原子力显微镜 (AFM) 和扫描隧道 (STM) 显微镜成像技术。